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GIS局放带电检测

来源:华彩

检测方法:

高频法和超声波法检测。

超高频检测法可有效检测GIS内部的由悬浮颗粒、导体和壳体上的突起、盆式绝缘子内部绝缘缺陷等原因引起的局部放电。超高频传感器的检测频率范围:300MHz1.5GHz,由于检测频率高可有效的避免现场干扰。

超声波检测法可以检测、识别和定位GIS中的局部放电故障或振动的微粒,不需要预先在GIS上安装内部耦合器和传感器。

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